Spectrophotomètre du nouveau modèle TS7600 pour le plastique

May 28, 2020
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Un client dans l'usine en plastique est venu à notre bureau pour vérifier notre représentation de spectrophotomètre du produit nouveau TS7600 et ils ont dit fortement parlé de TS7600. C'est très exactitude et il est très bonne pour différents échantillons mesurer les ouvertures d'appartement ou d'astuce.

 

spectrophotomètre tenu dans la main de 3nh TS7600 pour des plastiques

 

Le Special le logiciel de QC est très bon pour faire beaucoup essai de couleur et il inclut des codes couleurs de Cu de pantone dans le logiciel que nous pouvons trouver la meilleure couleur avec le pantone. Cette fonction est très étonnante. Ils l'aiment beaucoup.

 

logiciel tenu dans la main de spectrophotomètre de 3nh TS7600

 

Le meilleur aspect important pourquoi ils l'achètent est le résultat d'essai est très très proche de CM-700D, qui est très cher et peu de fonctions.

 

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Ici c'est des spécifications du spectrophotomètre TS7600.

 

Modèle Spectrophotomètre TS7600
La géométrie optique Reflétez : Di : 8°, De : 8° (illumination diffuse, angle de visualisation de 8 degrés)
SCI (composant spéculaire inclus) /SCE (composant spéculaire exclu) ; source exclue de lumière UV
Se conforme à cie No.15, GB/T 3978, le gigaoctet 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7
Caractéristique Adapté aux besoins du client une ouverture, il est employé pour la mesure et le contrôle de qualité de la couleur précis dans l'électronique en plastique, peinture et encre, textile et impression et teinture de vêtement, impression, céramique et d'autres industries, et pour la mesure fluorescente d'échantillon.
Taille de sphère d'intégration Φ40mm
Source lumineuse Pleine source lumineuse combinée du spectre LED, source de lumière UV
Mode spectrophotométrique À plat râpant
Senso Rangée de photodiode de silicium (double rangée 40 groupes)
Gamme de longueurs d'onde 400~700nm
Intervalle de longueur d'onde 10nm
Largeur de Semiband 10nm
Chaîne mesurée de réflectivité 0-200%
Ouverture de mesure Adapté aux besoins du client une ouverture : MAV : Φ8mm/Φ10mm ; SAV : Φ4mm/Φ5mm
Composant spéculaire SCI&SCE
Espace chromatique LABORATOIRE de cie, XYZ, Yxy, LCh, cie LUV, s-RVB, βxy, Munsell (C/2)
Formule de différence de couleur ΔE*ab, ΔE*uv, ΔE*94, ΔE*cmc (2 : 1), ΔE*cmc (1 : 1), ΔE*00
L'autre index colorimétrique WI (ASTM E313, CIE/ISO, AATCC, chasseur),
YI (ASTM D1925, ASTM 313),
Souillant la stabilité, stabilité de couleur, force de couleur, opacité,
Brillant 8°,
Angle d'observateur 2°/10°
Illuminant D65, A, C, D50, F2 (CWF), F7 (DLF), F10 (TPL5), F11 (TL84), F12 (TL83/U30)
Données montrées Spectrogramme/valeurs, valeurs de chromaticité d'échantillons, valeurs de différence de couleur/graphique, résultat de PASS/FAIL, compensation de couleur
Temps de mesure Au sujet de 1.5s (mesure SCI et SCE au sujet de 3.2s)
Répétabilité Réflectivité spectrale : MAV/SCI, écart type à moins de 0,1% (400 nanomètre à 700 nanomètre : à moins de 0,2%)
Valeur de chromaticité : MAV/SCI, dans ΔE*ab 0,04 (quand un plat blanc de calibrage est mesuré 30 fois aux 5 seconde intervalles après le calibrage blanc)
erreur d'Inter-instrument MAV/SCI, dans ΔE*ab 0,2
(Moyenne pour 12 tuiles de couleur de série II de BCRA)
Mode de mesure Mesure simple, mesure moyenne (2-99times)
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